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연구

첨단분석센터(ACC)

첨단분석센터 (ACC: Advanced Characterization Center)

센터장: 여종석 교수님

첨단분석센터는 연구소 설립 이래 나노-바이오-에너지-IT 융합 분야에서의 국제적 수준의 공동 연구 시설을 확보하기 위하여 20여종의 최첨단 분석 연구 장비를 도입함으로써 분석 전문 공용 실험시설을 구축하였습니다.
센터 내 보유 장비는 Cs-corrected STEM, FE-SEM, HR-XRD, AFM 등 구조 분석 장비, TOF-SIMS, XPS 등 화학 분석 장비, Raman spectrometer, FT-IR 등 분광 분석 장비 등으로 구분되어 다양한 분석 기법을 통해 다각적이고 보다 정확한 재료의 메커니즘을 규명하는데 도움을 주고 있습니다.
이러한 센터 내 첨단 장비들은 국제 공동 연구 활성화, 원천 기술 연구의 경쟁력 확보, 벤처 기업의 상용화 연구 지원, 정부 및 기업 과제 지원에서 경쟁력을 확보하기 위해 신촌캠퍼스의 공동기기원과 연계하여 분석 지원 서비스에 운영되고 있습니다.

첨단분석센터

구조 분석 분야

고체 표면으로부터 수 nm ~ ㎛ 에 상당하는 영역에서 발생하는 현상을 정확하게 분석하기 위하여 가속된 전자빔이나 이온빔을 이용하여 표층의 조성과 구조를 규명할 수 있습니다. 구조 분석 분야의 대표적인 장비인 Cs corrected STEM은 입사된 전자빔이 시료와 상화작용을 거쳐 결정구조, 결함, 회절도형에 대한 정보를 제공하며, 이 때 발생하는 특성 X선(EDS) 및 에너지 손실 전자(EEEL)를 이용하여 조성 분석 등 다양한 구조 분석을 할 수 있습니다.

화학 분석 분야

물질을 이루고 있는 원자·분자·이온 등을 검출하고 확인하거나 물질 중에 존재하는 특정 화합물의 상대적인 양을 결정할 수 있습니다.
이 중 ToF SIMS는 수 eV ~ 30 KeV의 운동에너지를 가진 일차 이온(Bin+,O2+,Cs+)을 시료표면에 충돌시키고, 이때 방출되는 이차이온을 분석하는 장비로써, 시료의 화학적 성분을 알 수 있습니다. 이를 이용한 표면분석에는 표면 구성 원소의 정성, 분자구조 분석, 깊이 방향의 원소 분포분석, 이미지 분석이 가능합니다.

분광 분석 분야

일반적으로 자외선, 가시광선, 적외선, 라만 분광 등을 이용하여 물질의 방출스펙트럼 또는 흡수스펙트럼을 조사함으로써 그 속에 있는 성분원소나 화합물의 종류와 양을 판정하는 방법입니다. 또한 이러한 스페트럼을 정밀히 측정·해석하여 물질의 에너지준위, 전이확률, 분자 간격이나 분자구조의 결정 등에도 이용할 수 있습니다. 분광 분석 장비 중 Raman Spectrometer는 물질에 일정진동수의 빛을 조사하여 얻어진 산란광을 이용하여 분자구조해석에 대한 정보 및 정성·정량분석을 할 수 있습니다. 이 장비의 응용분야는 상당히 광범위하며, 화학, 물리, 농학분야에서 물질의 구조해석, 분석 등에 응용하는 외에 약학, 의학 분야에 있어서 약품, 체액, 단백, 혈액 등의 구조연구해석에 사용할 수 있습니다.

 

첨단분석센터

여종석 교수

작성일 : 2016.02.26 조회수 : 428


첨단분석센터는 여종석 교수, 첨단분석센터 분석 지원을 위함 김미희선생님, 김수현선생님, 이희선선생님, 최해민선생님으로 구성되어 있습니다.


 


첨단분석센터는 연구소 설립 이래 나노-바이오-에너지-IT 융합 분야에서의 국제적 수준의 공동 연구 시설을 확보하기 위하여 20여종의 최첨단 분석 연구 장비를 도입함으로써 분석 전문 공용 실험시설을 구축하였습니다.